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ASDCASD-1000B變頻式互感器綜合測(cè)試儀是在傳統(tǒng)基于調(diào)壓器、升壓器、升流器的互感器伏安特性測(cè)試儀基礎(chǔ)上，廣泛聽取用戶意見、經(jīng)過大量的市場(chǎng)調(diào)研、深入進(jìn)行理論研究之后研發(fā)的CT、PT測(cè)試儀器。裝置采用高性能DSP和FPGA、前衛(wèi)的制造工藝，保證了產(chǎn)品性能穩(wěn)定可靠、功能完備、自動(dòng)化程度高、測(cè)試效率高、在國(guó)內(nèi)處于前衛(wèi)水平，是電力行業(yè)用于互感器的專業(yè)測(cè)試儀器。
ASDCASD-1000B變頻式互感器綜合測(cè)試儀是一款專門為測(cè)試互感器：CT伏安特性、誤差曲線、變比、極性、退磁、二次負(fù)荷、角差、比差、暫態(tài)PT勵(lì)磁、變比、極性、二次負(fù)荷功能等參數(shù)而設(shè)計(jì)的多功能現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)儀器。變頻式互感器測(cè)試儀基于前衛(wèi)的變頻法測(cè)試CT/PT伏安特性曲線和10%（5%）誤差曲線，可輸出180A的電流，方便現(xiàn)場(chǎng)通流測(cè)試，卻能應(yīng)對(duì)拐點(diǎn)高達(dá)60KV的CT測(cè)試。變頻式互感器測(cè)試儀的CT測(cè)試可以在比額定頻率低的情況下進(jìn)行，避免繞組和二次端子承受不能容許的電壓。
變頻式互感器綜合測(cè)試儀采用低頻法測(cè)量原理：CT一次側(cè)開路，從二次側(cè)施加電壓，測(cè)量所加電壓V與輸入電流I的關(guān)系曲線。此曲線近似CT的勵(lì)磁電勢(shì)E與勵(lì)磁電流I的關(guān)系曲線。
設(shè)CT勵(lì)磁繞組在某一勵(lì)磁電流I時(shí)的激磁電感為L(zhǎng)，激磁阻抗為Z，則：V = I?Z
電感L與阻抗Z之間具有下述關(guān)系：
Z = ω?L = 2 π f L 則：V= I?2 π f L
由公式中可見在某一激磁電感L時(shí)所加電壓V與頻率f成正比關(guān)系。
假設(shè)當(dāng)f = 50Hz時(shí)，為達(dá)到勵(lì)磁電流Ix，所需施加的電壓Vx為2000V
Vx = Ix?2 π f L = 2000V，
若施加不同頻率：
f = 50Hz，Vx＝ 2000V
f = 5Hz，Vx≌ 200V
f = 0.5Hz，Vx≌ 20V
由此可見需要使CT進(jìn)入相同飽和程度，施加較低頻率信號(hào)所需電壓可以大幅度降低這就是變頻法的基本原理。
在此須嚴(yán)格注意，所需電壓并非與頻率呈線性比例關(guān)系，并非隨著頻率等比例降低，需要嚴(yán)格按照變頻互感器測(cè)試儀的準(zhǔn)確數(shù)學(xué)模型進(jìn)行完整的理論計(jì)算。
